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微距測(cè)試卡
微距測(cè)試卡TE274設(shè)計(jì)用于分析在微距模式下單反相機(jī)系統(tǒng)以及小型相機(jī)的微距鏡頭的分辨率和失真。微距測(cè)試卡TE274使用方法將微距測(cè)試卡放在相機(jī)外的桌子上。從測(cè)試卡的上部（斜邊）...【點(diǎn)擊詳情】
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自然膚色測(cè)試卡
自然膚色測(cè)試卡TE273是專(zhuān)為評(píng)估電子相機(jī)的膚色再現(xiàn)。 該系列測(cè)試卡提供不同膚色的自然，而不是化妝的人。 因此，也可以評(píng)價(jià)皮膚的天然質(zhì)地的再現(xiàn)。...【點(diǎn)擊詳情】
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3D校準(zhǔn)測(cè)試卡
3D校準(zhǔn)測(cè)試卡簡(jiǎn)介3D校準(zhǔn)測(cè)試卡TE271用于對(duì)齊和調(diào)整攝像機(jī)進(jìn)行3D拍攝。2D和3D結(jié)構(gòu)的獨(dú)特組合允許簡(jiǎn)單和直接的準(zhǔn)備您的立體攝像機(jī)設(shè)置。...【點(diǎn)擊詳情】
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OECF測(cè)試卡
OECF測(cè)試卡TE270X圖表類(lèi)似于TE264，但它在測(cè)試卡的中心配備了兩個(gè)偏振濾光片。對(duì)于不允許手動(dòng)調(diào)節(jié)曝光的相機(jī)，通過(guò)修改測(cè)試卡中心部分的密度（透射率）可以改變自動(dòng)曝光控制（AEC）...【點(diǎn)擊詳情】
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OECF 36階測(cè)試卡
OECF 36階測(cè)試卡基本上遵循ISO 14524，但是增加了額外的灰階，特別是在更高的密度水平。我們的OECF測(cè)試卡具有穩(wěn)定的生產(chǎn)工藝和強(qiáng)中性的優(yōu)勢(shì)。此外，可實(shí)現(xiàn)高達(dá)1.000.000：1 / 120dB的非常高...【點(diǎn)擊詳情】
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鏡頭分辨率測(cè)試卡
鏡頭分辨率測(cè)試卡TE268專(zhuān)為分辨率和銳度測(cè)量而設(shè)計(jì)。 25個(gè)正弦調(diào)制的西門(mén)子星，在四個(gè)不同對(duì)比度的16個(gè)傾斜邊緣，四個(gè)彩色枯葉圖和繩索結(jié)構(gòu)圖像被放置在測(cè)試卡上。測(cè)試卡可以對(duì)九...【點(diǎn)擊詳情】
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微縮膠片測(cè)試卡DIN 19051
微縮膠片測(cè)試卡DIN 19051簡(jiǎn)介，DIN 19051提供了一個(gè)校準(zhǔn)微縮膠片生產(chǎn)鏈的測(cè)試卡。 它們可以安裝在塑料背板上，放在桌子上或懸掛在任何可用的安裝裝置上。 ...【點(diǎn)擊詳情】
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枯葉圖
枯葉圖TE265用于分析“紋理?yè)p失”，這是由于降噪或其他圖像處理技術(shù)導(dǎo)致的圖像中低對(duì)比度，精細(xì)細(xì)節(jié)的損失?？萑~圖TE265包括四個(gè)項(xiàng)目...【點(diǎn)擊詳情】
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OECF測(cè)試卡20階(ISO 14524/15739)
舊版OECF測(cè)試卡包含循環(huán)順序中的12或20個(gè)灰色色塊，以及測(cè)試卡中心的三個(gè)不同圖案。新版 OECF測(cè)試卡去掉了中心圖案避免了有時(shí)發(fā)生散射。。此測(cè)試卡還提供TE264X（僅D280格式），其中...【點(diǎn)擊詳情】
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UTT通用測(cè)試卡
UTT通用測(cè)試卡簡(jiǎn)介;UTT通用測(cè)試卡TE262旨在評(píng)估用于創(chuàng)建文檔，照片和其他反射媒體的數(shù)字圖像的掃描儀和其他數(shù)字輸入設(shè)備的圖像質(zhì)量。...【點(diǎn)擊詳情】
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